镀锡板镀层的辉光放电光谱法解析

来源期刊：冶金分析2015年第3期

论文作者：徐永林

文章页码：7 - 12

关键词：辉光放电光谱法(GDS);镀锡板;镀层;钝化层;厚度;质量;基板成分;有害元素;

摘    要：利用辉光放电光谱法对镀锡板样品进行逐层剥离,根据样品由表至里的辉光放电积分图谱,分别设定公式积分计算镀锡板镀层厚度及质量、钝化层厚度及质量、基板成分、镀层中有害元素等。采用辉光放电光谱对镀锡板做深度-时间图,可知镀锡层的深度分辨率低于基板铁层。将方法应用于测定镀层质量、钝化层质量、基板成分（碳、硅、锰、磷、硫、镍、铬和铜）的测定,相对标准偏差分别不大于2.3%（n=10）、3.0%（n=10）、4.3%（n=5）,分别将实验方法测定结果与X射线荧光光谱法（XRF）、光度法、电感耦合等离子体原子发射光谱法（ICPAES）进行比对,结果基本一致。采用实验方法对镀锡板镀层中的有害元素进行了测定,可实现镀锡板多个检测项目的同时测定。