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纳米尺寸下铱单晶微柱的力学行为

来源期刊:材料科学与工程学报2018年第1期

论文作者:李扬 刘毅 罗锡明 李伟 张健康 许昆

文章页码:5 - 9

关键词:铱单晶;微柱压缩;尺寸效应;滑移;位错匮乏;

摘    要:本文采用聚焦离子束法(Focused Ion Beam,FIB)对<110>取向铱(Ir)单晶进行切割,加工出直径为4003000nm的微柱样品,随后在带有平压头的纳米压痕仪上进行压缩试验来研究其力学行为。Ir单晶微柱压缩的工程应力-应变曲线表明,流变应力随着微柱直径的减小而增加,即存在"尺度效应",且流变应力与微柱直径符合幂律关系,同时工程应力-应变曲线上出现了离散的"应变陡增",利用"位错匮乏"机制能够对这种现象进行较好的解释。微柱压缩变形后的扫描电镜(SEM)图像表明微柱的滑移方式为多滑移,并且滑移与微柱直径相关。

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纳米尺寸下铱单晶微柱的力学行为

李扬,刘毅,罗锡明,李伟,张健康,许昆

贵研铂业股份有限公司稀贵金属综合利用新技术国家重点实验室昆明贵金属研究所

摘 要:本文采用聚焦离子束法(Focused Ion Beam,FIB)对<110>取向铱(Ir)单晶进行切割,加工出直径为4003000nm的微柱样品,随后在带有平压头的纳米压痕仪上进行压缩试验来研究其力学行为。Ir单晶微柱压缩的工程应力-应变曲线表明,流变应力随着微柱直径的减小而增加,即存在"尺度效应",且流变应力与微柱直径符合幂律关系,同时工程应力-应变曲线上出现了离散的"应变陡增",利用"位错匮乏"机制能够对这种现象进行较好的解释。微柱压缩变形后的扫描电镜(SEM)图像表明微柱的滑移方式为多滑移,并且滑移与微柱直径相关。

关键词:铱单晶;微柱压缩;尺寸效应;滑移;位错匮乏;

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