电子电气产品中19种元素的无损测定、分布研究及风险评估
来源期刊:分析试验室2015年第11期
论文作者:高欢 卫碧文 倪旎 望秀丽
文章页码:1295 - 1299
关键词:XRF;电子电气产品;快速无损;分布研究;风险评估;
摘 要:采用X射线荧光光谱法快速无损扫描测定电子电气产品中19种元素,考察了特征X射线以及计数时间的选择,并通过自制标准块绘制标准曲线。同时利用MAPPING功能进行微区原位扫描,掌握19种元素的分布情况及分布特征。并利用换算因子计算REACH高关注物质的含量,对19种元素进行风险性评价。
高欢,卫碧文,倪旎,望秀丽
上海出入境检验检疫局
摘 要:采用X射线荧光光谱法快速无损扫描测定电子电气产品中19种元素,考察了特征X射线以及计数时间的选择,并通过自制标准块绘制标准曲线。同时利用MAPPING功能进行微区原位扫描,掌握19种元素的分布情况及分布特征。并利用换算因子计算REACH高关注物质的含量,对19种元素进行风险性评价。
关键词:XRF;电子电气产品;快速无损;分布研究;风险评估;