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掺杂不同质量分数Y2O3、MgO对Al2O3陶瓷显微结构及介电性能的影响

来源期刊:粉末冶金技术2017年第4期

论文作者:洪逍 章林 贾成厂 秦恬

文章页码:255 - 262

关键词:Al2O3陶瓷;掺杂;放电等离子烧结;显微结构;介电性能;

摘    要:利用放电等离子烧结技术制备了不同质量分数Y2O3单独掺杂及不同质量分数Y2O3、MgO共同掺杂的Al2O3陶瓷,研究了烧结助剂掺杂质量分数对Al2O3陶瓷显微结构及介电性能的影响。结果表明,孔隙率是影响Al2O3陶瓷介电性能的主要因素;单独掺杂质量分数为0.25% Y2O3时,Al2O3陶瓷得到最优的介电性能,介电常数(εr)为9.5±0.2,介质损耗(tanδ)稳定在10-3数量级以内;同时掺杂Y2O3和MgO能进一步改善其介电性能,当两者质量分数均为0.25%时,得到最优值,介电常数(εr)为10.3±0.2,介质损耗(tanδ)稳定在8×10-4以下。

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掺杂不同质量分数Y2O3、MgO对Al2O3陶瓷显微结构及介电性能的影响

洪逍1,章林1,贾成厂1,秦恬2

1. 北京科技大学新材料技术研究院2. 北京科技大学材料科学与工程学院

摘 要:利用放电等离子烧结技术制备了不同质量分数Y2O3单独掺杂及不同质量分数Y2O3、MgO共同掺杂的Al2O3陶瓷,研究了烧结助剂掺杂质量分数对Al2O3陶瓷显微结构及介电性能的影响。结果表明,孔隙率是影响Al2O3陶瓷介电性能的主要因素;单独掺杂质量分数为0.25% Y2O3时,Al2O3陶瓷得到最优的介电性能,介电常数(εr)为9.5±0.2,介质损耗(tanδ)稳定在10-3数量级以内;同时掺杂Y2O3和MgO能进一步改善其介电性能,当两者质量分数均为0.25%时,得到最优值,介电常数(εr)为10.3±0.2,介质损耗(tanδ)稳定在8×10-4以下。

关键词:Al2O3陶瓷;掺杂;放电等离子烧结;显微结构;介电性能;

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