疲劳过程中垂直晶界Cu双晶形变带中位错组态与裂纹形核
来源期刊：金属学报2004年第5期
论文作者：李守新 李广义 李勇
关键词：Cu双晶; 位错组态; 裂纹; 形变带;
摘 要：采用电子通道衬度技术对垂直晶界Cu双晶在疲劳过程中位错组态的演化与裂纹的形核进行了研究.结果表明,形变带中墙结构的间距从形成之初到疲劳裂纹出现始终保持恒定;穿晶裂纹与沿晶裂纹尖端的位错组态均为胞结构;裂纹优先从形变带产生.
李守新1，李广义1，李勇1
(1.中国科学院金属研究所沈阳材料科学国家(联合)实验室,沈阳,110016)
摘要:采用电子通道衬度技术对垂直晶界Cu双晶在疲劳过程中位错组态的演化与裂纹的形核进行了研究.结果表明,形变带中墙结构的间距从形成之初到疲劳裂纹出现始终保持恒定;穿晶裂纹与沿晶裂纹尖端的位错组态均为胞结构;裂纹优先从形变带产生.
关键词:Cu双晶; 位错组态; 裂纹; 形变带;
【全文内容正在添加中】
