MgB2/Mo多层膜的制备与超导性质
来源期刊:稀有金属材料与工程2019年第8期
论文作者:周章渝 肖寒 王松 张青竹 王代强 陈雨青 傅兴华
文章页码:2711 - 2715
关键词:混合物理化学气相沉积法;磁控溅射技术;MgB2/Mo多层膜;
摘 要:采用磁控溅射技术(MS)和混合物理化学气相沉积法(HPCVD)在单晶Al2O3基底上制备MgB2/Mo多层膜。通过扫描电子显微镜(SEM)、X射线衍射(XRD)和标准四线法对样品的表面形貌、晶体结构和超导特性进行了测量研究。结果表明,随着后续MgB2沉积温度的提高,各膜层结晶程度进一步提高,晶粒尺寸不断增大,各自保持着良好的物质稳定性。在730℃下生长的MgB2薄膜的超导转变温度Tconset和零电阻温度Tc0分别为39.73和39.53 K,剩余电阻率ρ40K为0.77μΩ·cm,表明样品处于干净极限。
周章渝1,2,3,肖寒4,王松3,张青竹2,王代强4,陈雨青1,傅兴华3
1. 贵阳学院2. 中国科学院微电子研究所3. 贵州省微纳电子与软件技术重点实验室4. 贵州民族大学
摘 要:采用磁控溅射技术(MS)和混合物理化学气相沉积法(HPCVD)在单晶Al2O3基底上制备MgB2/Mo多层膜。通过扫描电子显微镜(SEM)、X射线衍射(XRD)和标准四线法对样品的表面形貌、晶体结构和超导特性进行了测量研究。结果表明,随着后续MgB2沉积温度的提高,各膜层结晶程度进一步提高,晶粒尺寸不断增大,各自保持着良好的物质稳定性。在730℃下生长的MgB2薄膜的超导转变温度Tconset和零电阻温度Tc0分别为39.73和39.53 K,剩余电阻率ρ40K为0.77μΩ·cm,表明样品处于干净极限。
关键词:混合物理化学气相沉积法;磁控溅射技术;MgB2/Mo多层膜;