简介概要

Al-Cu-Li-Cd系合金缺口敏感试样断口的电子显微镜研究

来源期刊:轻金属1979年第6期

论文作者:王永海 项志量

文章页码:51 - 57

摘    要:<正> 金属断裂后的断口,留下了断裂过程的全部痕迹。所以断口的检验和分析就成为确定金属断裂原因的重要手段。金相显微镜不能将断口凸凹不平的形貌成象,因此它不能观察出断口的微观形态。电子显微镜有很大的焦深和景深,同时具有很高的分辨能力和放大倍数,因

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Al-Cu-Li-Cd系合金缺口敏感试样断口的电子显微镜研究

王永海,项志量

摘 要:<正> 金属断裂后的断口,留下了断裂过程的全部痕迹。所以断口的检验和分析就成为确定金属断裂原因的重要手段。金相显微镜不能将断口凸凹不平的形貌成象,因此它不能观察出断口的微观形态。电子显微镜有很大的焦深和景深,同时具有很高的分辨能力和放大倍数,因

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