纳米Si薄膜光学性质和弹性常数的研究
来源期刊：材料导报2012年第14期
论文作者：梁伟华 王秀丽 赵亚军 庞学霞 王英龙
文章页码：150 - 153
关键词：纳米Si薄膜;第一性原理;光学性质;弹性常数;
摘 要：采用基于密度泛函理论的第一性原理的方法,对厚度为0.54～3.30nm纳米Si薄膜的电子结构、光学性质及弹性常数进行了计算。结果表明,纳米Si薄膜是直接带隙半导体材料;随着纳米Si薄膜厚度的减小,带隙逐渐增大;薄膜的光学吸收边发生蓝移,吸收带出现宽化现象;弹性常数、杨氏模量和泊松比呈现尺寸效应。
梁伟华，王秀丽，赵亚军，庞学霞，王英龙
河北大学物理科学与技术学院
摘 要：采用基于密度泛函理论的第一性原理的方法,对厚度为0.54～3.30nm纳米Si薄膜的电子结构、光学性质及弹性常数进行了计算。结果表明,纳米Si薄膜是直接带隙半导体材料;随着纳米Si薄膜厚度的减小,带隙逐渐增大;薄膜的光学吸收边发生蓝移,吸收带出现宽化现象;弹性常数、杨氏模量和泊松比呈现尺寸效应。
关键词：纳米Si薄膜;第一性原理;光学性质;弹性常数;
