ICP-AES法测定钼酸铵及多钼酸铵中14个杂质元素
来源期刊：理化检验-化学分册2004年第9期
论文作者：何学文 赵收创 张遴
关键词：ICP-AES; 钼酸铵; 基体干扰; 杂质元素;
摘 要：提出了用浓硝酸沉淀并分离大量基体钼,ICP-AES同时测定钼酸铵中14个杂质元素的方法,考虑了钼基体、酸度、谱线干扰及背景影响等情况.在未引入其它任何试剂的情况下,用硝酸既除去了大量的钼基体,又调整了溶液的酸度,用标准加入法测定钼酸铵中的杂质元素,无需加入高纯基准试剂进行基体匹配,有效降低了分析成本,又消除了由于忽略基准物质中杂质元素的含量给分析测定带来的误差.回收率在85%～112%之间.
何学文1，赵收创1，张遴1
(1.陕西出入境检验检疫局, 西安 710068)
摘要:提出了用浓硝酸沉淀并分离大量基体钼,ICP-AES同时测定钼酸铵中14个杂质元素的方法,考虑了钼基体、酸度、谱线干扰及背景影响等情况.在未引入其它任何试剂的情况下,用硝酸既除去了大量的钼基体,又调整了溶液的酸度,用标准加入法测定钼酸铵中的杂质元素,无需加入高纯基准试剂进行基体匹配,有效降低了分析成本,又消除了由于忽略基准物质中杂质元素的含量给分析测定带来的误差.回收率在85%～112%之间.
关键词:ICP-AES; 钼酸铵; 基体干扰; 杂质元素;
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