前驱体中S含量对Sn-S薄膜溶胶-凝胶法制备影响的研究
来源期刊:功能材料与器件学报2021年第1期
论文作者:王荣晶 翟晓娜 葛庆 王依 石蒙 朴奉学 何锦辉 刘超前
文章页码:54 - 60
关键词:溶胶—凝胶法;Sn-S;禁带宽度;物相形成机制;
摘 要:本文基于大气气氛下快速热解的溶胶-凝胶旋涂法,研究了前驱体溶液中S含量对制备的Sn-S化合物薄膜物相、形貌与光学性能的影响。结果表明,薄膜的物相受到薄膜中S含量的严重影响。即,当薄膜中S含量较低时,其中是SnS2和Sn2S3的混合物相,而S含量较高时则是SnS2和SnS的混合物相。文中还尝试性探讨了所制备薄膜的物相形成机制。另外,薄膜的物相组成又进一步影响了薄膜的形貌状态和禁带宽度。此外,样品在450℃的退火处理对于薄膜的物相和禁带宽度有一定影响,但对薄膜形貌的影响非常有限。
王荣晶,翟晓娜,葛庆,王依,黄凯伦,朴奉学,何锦辉,刘超前
大连交通大学材料科学与工程学院光电材料与器件工程技术研究中心
摘 要:本文基于大气气氛下快速热解的溶胶-凝胶旋涂法,研究了前驱体溶液中S含量对制备的Sn-S化合物薄膜物相、形貌与光学性能的影响。结果表明,薄膜的物相受到薄膜中S含量的严重影响。即,当薄膜中S含量较低时,其中是SnS2和Sn2S3的混合物相,而S含量较高时则是SnS2和SnS的混合物相。文中还尝试性探讨了所制备薄膜的物相形成机制。另外,薄膜的物相组成又进一步影响了薄膜的形貌状态和禁带宽度。此外,样品在450℃的退火处理对于薄膜的物相和禁带宽度有一定影响,但对薄膜形貌的影响非常有限。
关键词:溶胶—凝胶法;Sn-S;禁带宽度;物相形成机制;