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集成电路用钛靶材和铜铬合金背板扩散焊接技术研究

来源期刊:金属功能材料2017年第6期

论文作者:董亭义 何金江 吕保国

文章页码:23 - 27

关键词:靶材;高纯钛;扩散焊接;CuCr合金;

摘    要:研究了高纯金属Ti和CuCr合金在不同的工艺条件下的扩散焊接性能和界面情况。结果表明,真空封焊的退火态CuCr合金和高纯Ti样件经过525℃/120 MPa/4h的热等静压,平均焊接强度能达到133.6 MPa以上,焊接界面达到冶金结合,焊接可以满足Ti靶材的使用要求。

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集成电路用钛靶材和铜铬合金背板扩散焊接技术研究

董亭义1,2,3,何金江3,吕保国1,2

2. 有研亿金新材料有限公司3. 北京市高纯金属溅射靶材工程技术研究中心

摘 要:研究了高纯金属Ti和CuCr合金在不同的工艺条件下的扩散焊接性能和界面情况。结果表明,真空封焊的退火态CuCr合金和高纯Ti样件经过525℃/120 MPa/4h的热等静压,平均焊接强度能达到133.6 MPa以上,焊接界面达到冶金结合,焊接可以满足Ti靶材的使用要求。

关键词:靶材;高纯钛;扩散焊接;CuCr合金;

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