双轴拉伸应变对锗能带退简并的影响

来源期刊：上海金属2018年第1期

论文作者：戴中华 钱一辰 谢耀平 胡丽娟 李晓娣 马海涛

文章页码：34 - 38

关键词：应变锗;退简并;能带结构;密度泛函理论;

摘    要：采用第一性原理方法研究了沿(001)、(101)和(111)面施加双轴拉伸应变下锗能带退简并行为。研究表明,布里渊区价带顶Γ点退简并行为相对简单,导带底L点退简并行为较复杂,不同L点到Γ点的能量差均不同,所对应能隙也不同。具体而言,沿(001)面施加双轴拉伸不会引起L点电子态退简并;沿(101)和(111)面施加双轴拉伸均可引起L点电子态退简并。因此,计算应变锗能隙时需考察不同导带L点与价带顶Γ点的能量差值。