用0.5米平面光栅摄谱仪测定低含量锡
来源期刊：分析试验室1983年第5期
论文作者：吴成振 郑森芳
文章页码：36 - 67
摘 要：<正> 为了发挥小仪器的效能,我们试验了用0.5米平面光栅摄谱仪测定低含量锡。采用正交设计选择了主要摄谱条件。测定下限为0.003%。对锡含量为0.134%和0.011%的试样进行7次测定,相对标准偏差分别为7%和8%。用本法测定管理样以及与其它方法结果对照,结果基本吻合。一、仪器及工作条件WSP-2型0.5米平面光栅摄谱仪。三透镜
吴成振，郑森芳
广西平桂矿务局试验所
摘 要：<正> 为了发挥小仪器的效能,我们试验了用0.5米平面光栅摄谱仪测定低含量锡。采用正交设计选择了主要摄谱条件。测定下限为0.003%。对锡含量为0.134%和0.011%的试样进行7次测定,相对标准偏差分别为7%和8%。用本法测定管理样以及与其它方法结果对照,结果基本吻合。一、仪器及工作条件WSP-2型0.5米平面光栅摄谱仪。三透镜
关键词：
